摘要:本文主要向大家介绍了Flash基础入门之NFA100-E闪存测试仪,通过具体的内容向大家展现,希望对大家学习Flash基础入门有所帮助。
本文主要向大家介绍了Flash基础入门之NFA100-E闪存测试仪,通过具体的内容向大家展现,希望对大家学习Flash基础入门有所帮助。
NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统,它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本(Script)来扩展任何自定义的测试或分析功能。
NFA100-E主要面向:企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。
技术指标:
1、支持最新制程3D Nand Flash,1x nm以及25nm,34nm,56nm制程Nand Flash;
2、支持SLC,MLC,TLC,eMLC;
3、支持8位和16位异步Flash;
4、支持同步,Toggle Flash;
5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk,Hynix厂商所有常规Nand Flash;
6、支持TSOP48,BGA63,BGA100,BGA132,BGA152封装;
7、可以定制开发非常规封装、自定义封装Nand Flash。
性能指标:
1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑,计算由测试主板FPGA完成,对工控电脑资源消耗极低,USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件,因此不会对性能产生任何影响;
2、测试效率主要取决于所需要测试Nand Flash的接口性能以及所需测试项目的内容,如:测试P/E cycle,所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern,及Nand Flash接口的性能。
特殊用途:
1、测试客户自主开发的BCH ECC或者LDPC强度;
2、测试Read Retry
3、对Nand Flash进行电压拉偏测试;
4、对Nand Flash进行物理烧毁测试;
设备简介:
NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统,它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求。1. NFA100-E最大限度地提供NAND的各种原始信息。 对NAND的原始信息只能通过对NAND发送各种命令,同时读取返回的结果来判断,NFA100-E除了可以发送擦除、写入、读取、重置、获取ID等简单的命令外,还能发送诸如set feature/get feature等命令,可以很容易实现Nand Flash的诸如ReadRetry(RR)等方面的测试。以上就介绍了Flash的相关知识,希望对Flash有兴趣的朋友有所帮助。了解更多内容,请关注职坐标常用软件Flash频道!
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